mit modernen Mess­systemen

Messsysteme
für die Vakuumbeschichtung

Der kontinu­ierliche Nachweis der Schicht­eigenschaften im Beschichtungs­prozess ist eine wichtige Aufgabe, wenn Sie eine  Beschichtungs­anlage betreiben. Das betrifft sowohl die Qualitäts­sicherung als auch die Fehler­erkennung und Parameter­steuerung. Wichtige Mess­größen sind hier optische Eigen­schaften, wie Reflexion und Transmission. Aber auch der Flächen­widerstand ist entscheidend.

VON ARDENNE bietet hier zwei Lösungen an. Das In-Situ-Messsystem besteht aus lokal fest verbauten Mess­köpfen in der Anlage nach jedem Beschichtungs­schritt. Sie liefern in einer Spur Informationen zur jeweiligen Einzel­schicht. Das Ex-Situ-Messsystem scannt die gesamt Oberfläche des beschichteten Produktes nachdem es die Anlage verlassen hat.

Mit den Informationen aus beiden Systemen können Sie die Eigenschaften und deren Verteilung zur Qualitätssicherung messen. Und Sie können Rückschlüsse auf die Steuerung der Prozessparameter jeder Einzelschicht gewinnen. 

Wollen Sie mehr erfahren? Dann klicken sie auf die einzelnen Komponenten oder nehmen Sie direkt Kontakt auf.

Support
Media
Keine Nachrichten verfügbar.
Contact
02.09.2026 - 04.09.2026
Semicon Taiwan 2026

Taipeh, Taiwan

Silicon Saxony Pavilion

14.09.2026 - 18.09.2026
EUPVSEC Bilbao 2026

Rotterdam, the Netherlands

WTC World Trade Center

 

13.10.2026 - 15.10.2026
Semicon West 2026

San Francisco, CA, USA

Moscone Center

North Hall | Booth 5373

20.10.2026 - 22.10.2026
Hydrogen Technology Expo Hamburg 2026

Hamburg, Germany

Exhibition Center

6J74

20.10.2026 - 23.10.2026
Glasstec 2026

Düsseldorf, Germany

Exhibition Center

SALES Contact

Am Hahnweg 8
01328 Dresden
Deutschland

Suche