Ex-Situ Messsysteme
für Vakuumbeschichtung

Das VON ARDENNE Ex-Situ-GC-Mess­system wurden für die Qualitäts­sicherung und Qualitäts­überwachung bei Beschichtungen auf Glas entwickelt. Sie können es bei funktionellen Beschichtungen für Photovoltaik-Anwendungen, Beschichtungen mit geringem Emissions­vermögen (Low-E) und optischen Beschichtungen einsetzen. Es ist auch für die optische Charakterisierung und Messung des Schicht­widerstandes geeignet.

Unsere aktuellen Ex-Situ-Messsysteme für Glas mit Low-E Beschichtung gehen über die reine optische Messung der beschichteten Glasscheibe hinaus. Sie können das Aussehen (technische Parameter, Emissivität, U- oder G-Wert) von Doppel- und Dreifach­isolier­verglasung vorhersagen, die aus Glasscheiben der aktuellen Produktion entstehen werden.

Wollen Sie mehr erfahren? Dann werfen Sie einen Blick in die Broschüre, oder nehmen Sie direkt Kontakt auf.

Kontinuierliche Qualitätssicherung

und  Parameter­steuerung

Industriell erprobte & aufeinander abgestimmte Messtechnik

für optische & elektrische Schicht­eigenschaften

Hohe Qualitäts-Ausbeute

durch umfangreiche & schnelle Charakterisierung

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