Das VON ARDENNE Ex-Situ-GC-Messsystem wurden für die Qualitätssicherung und Qualitätsüberwachung bei Beschichtungen auf Glas entwickelt. Sie können es bei funktionellen Beschichtungen für Photovoltaik-Anwendungen, Beschichtungen mit geringem Emissionsvermögen (Low-E) und optischen Beschichtungen einsetzen. Es ist auch für die optische Charakterisierung und Messung des Schichtwiderstandes geeignet.
Unsere aktuellen Ex-Situ-Messsysteme für Glas mit Low-E Beschichtung gehen über die reine optische Messung der beschichteten Glasscheibe hinaus. Sie können das Aussehen (technische Parameter, Emissivität, U- oder G-Wert) von Doppel- und Dreifachisolierverglasung vorhersagen, die aus Glasscheiben der aktuellen Produktion entstehen werden.
Wollen Sie mehr erfahren? Dann nehmen Sie direkt Kontakt auf.
und Parametersteuerung
für optische & elektrische Schichteigenschaften
durch umfangreiche & schnelle Charakterisierung
Booth: 5H130
Bremen, Messe
Booth: 581
Denver, Gaylord of the Rockies Resort
Noida, India Expo Center Greater Noida
Rochester, Joseph A. Floreano Riverside Convention Center
Portland, Oregon Convention Center
