Das VON ARDENNE Ex-Situ-GC-Messsystem wurden für die Qualitätssicherung und Qualitätsüberwachung bei Beschichtungen auf Glas entwickelt. Sie können es bei funktionellen Beschichtungen für Photovoltaik-Anwendungen, Beschichtungen mit geringem Emissionsvermögen (Low-E) und optischen Beschichtungen einsetzen. Es ist auch für die optische Charakterisierung und Messung des Schichtwiderstandes geeignet.
Unsere aktuellen Ex-Situ-Messsysteme für Glas mit Low-E Beschichtung gehen über die reine optische Messung der beschichteten Glasscheibe hinaus. Sie können das Aussehen (technische Parameter, Emissivität, U- oder G-Wert) von Doppel- und Dreifachisolierverglasung vorhersagen, die aus Glasscheiben der aktuellen Produktion entstehen werden.
Wollen Sie mehr erfahren? Dann klicken Sie auf die Inhalte weiter unten, oder nehmen Sie direkt Kontakt auf.
und Parametersteuerung
für optische & elektrische Schichteigenschaften
durch umfangreiche & schnelle Charakterisierung
Munich, Germany
Exhibition Center Munich
B.4160
Boston, MA, USA
Phoenix, AZ, USA
Phoenix Convention Center
Booth 6180
