Ex-Situ Messsysteme

für Vakuumbeschichtung

Das VON ARDENNE Ex-Situ-GC-Mess­system wurden für die Qualitäts­sicherung und Qualitäts­überwachung bei Beschichtungen auf Glas entwickelt. Sie können es bei funktionellen Beschichtungen für Photovoltaik-Anwendungen, Beschichtungen mit geringem Emissions­vermögen (Low-E) und optischen Beschichtungen einsetzen. Es ist auch für die optische Charakterisierung und Messung des Schicht­widerstandes geeignet.

Unsere aktuellen Ex-Situ-Messsysteme für Glas mit Low-E Beschichtung gehen über die reine optische Messung der beschichteten Glasscheibe hinaus. Sie können das Aussehen (technische Parameter, Emissivität, U- oder G-Wert) von Doppel- und Dreifach­isolier­verglasung vorhersagen, die aus Glasscheiben der aktuellen Produktion entstehen werden.

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