Das VON ARDENNE Ex-Situ-GC-Messsystem wurden für die Qualitätssicherung und Qualitätsüberwachung bei Beschichtungen auf Glas entwickelt. Sie können es bei funktionellen Beschichtungen für Photovoltaik-Anwendungen, Beschichtungen mit geringem Emissionsvermögen (Low-E) und optischen Beschichtungen einsetzen. Es ist auch für die optische Charakterisierung und Messung des Schichtwiderstandes geeignet.
Unsere aktuellen Ex-Situ-Messsysteme für Glas mit Low-E Beschichtung gehen über die reine optische Messung der beschichteten Glasscheibe hinaus. Sie können das Aussehen (technische Parameter, Emissivität, U- oder G-Wert) von Doppel- und Dreifachisolierverglasung vorhersagen, die aus Glasscheiben der aktuellen Produktion entstehen werden.
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und Parametersteuerung
für optische & elektrische Schichteigenschaften
durch umfangreiche & schnelle Charakterisierung
Phoenix, AZ, USA
Phoenix Convention Center
Booth 6180
